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仪器名称： FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜
仪器参数：
加速电压：200kV
高分辨极靴 (S-TWIN)
点分辨率：0.24nm；
线分辨率：0.14nmSTEM (HAADF)
分辨率：0.19nm
电子束能量色散：<0.7eV最大束流：>100nA；
1nm束斑最大束流：>0.5nAEELS (Gatan Enfina)
能量分辨率：0.7eV
EDAX能谱仪 (EDS)：5B~92U
主要功能及应用范围：
可实现材料微观组织形貌、晶体结构和微区成分的同位分析。样品类型包括金属材料、金属基复合材料和陶瓷及陶瓷基复合材料的薄膜样品，以及各种形状的纳米材料等。可广泛应用于材料科学、物理、化学、地质诸多研究领域。
收费标准：600-1200/个样品
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